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基于雙微處理器的發(fā)電機轉(zhuǎn)子交流阻抗測試儀的研制
摘要:介紹的發(fā)電機轉(zhuǎn)子交流阻抗測試儀以雙微處理器(MCU和DSP)系統(tǒng)為硬件平臺,使得運算量較大的算法可以在微型設(shè)備內(nèi)實現(xiàn);軟件上采用加窗、插值的高精度FFT算法,提高了非同步采樣時阻抗角的測量精度。實驗證明該測試儀準(zhǔn)確度高、工作穩(wěn)定、抗干擾能力強,所測結(jié)果能更好地反映出發(fā)電機轉(zhuǎn)子的工作狀態(tài)。關(guān)鍵詞:發(fā)電機 阻抗測試 加窗插值FFT DSP
發(fā)電機轉(zhuǎn)子繞組匝間短路是電力系統(tǒng)中常見的故障。當(dāng)此類故障發(fā)生時,轉(zhuǎn)子電流增大,繞組溫度升高,限制發(fā)電機的出力,嚴(yán)重時會影響發(fā)電機的正常運行。匝間短路通常通過測量發(fā)電機轉(zhuǎn)子繞組的交流阻抗和功率損耗來判別[1]。傳統(tǒng)的測量方法是采用多個測量儀器儀表(如隔離變壓器、調(diào)壓器、電壓表、電流表、功率表以及電流互感器等),在現(xiàn)場組裝后進行測量。這種需要很多種測量儀器組建測量系統(tǒng)的方法存在試驗設(shè)備笨重、費時費力、整理數(shù)據(jù)繁瑣、測量準(zhǔn)確度不高等缺點。
隨著數(shù)字電路和數(shù)字信號處理技術(shù)的不斷發(fā)展,新的微處理器和算法不斷涌現(xiàn)。據(jù)此研制了基于雙微處理器的發(fā)電機轉(zhuǎn)子交流阻抗測試儀。該測試儀采用了MCU+DSP的雙微處理器系統(tǒng)為硬件平臺,充分發(fā)揮了數(shù)字信號處理器計算能力強和單片機控制功能強的優(yōu)勢。軟件設(shè)計中,經(jīng)過大量仿真實驗研究,采用了加窗插值FFT算法,使得測試儀的整體精度,尤其是相位的計算精度得到了提高。
圖1
1 系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)
1.1概述
本儀器的硬件核心是單片機(AT89C52)和浮點數(shù)字信號處理芯片(TMS320C32),再加上一些外圍芯片后構(gòu)成了一個雙微處理器的測控系統(tǒng)。該系統(tǒng)由單片機完成鍵盤控制、液晶顯示、打印和數(shù)據(jù)存儲等功能;由數(shù)字信號處理器實現(xiàn)信號采集和數(shù)據(jù)處理功能,兩個處理器通過一片雙口RAM交換信息,使用一片可編程邏輯芯片完成整個系統(tǒng)的邏輯操作。整個系統(tǒng)包括輸入模塊、系統(tǒng)模塊、數(shù)據(jù)采集和處理模塊、存儲模塊、顯示模塊、打印模塊和通訊模塊。系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)如圖1所示。由于DSP具有強大的計算功能,而使用單片機進行控制又比較簡單、方便,因此,這種雙微處理器系統(tǒng)的設(shè)計不僅充分發(fā)揮了DSP和單片機的優(yōu)勢,而且結(jié)構(gòu)清晰、獨立,易于開發(fā)和調(diào)試。
1.2 各模塊功能介紹
(1)輸入模塊:包括傳感器和信號調(diào)理電路兩部分。
(2)系統(tǒng)模塊:以單片機(AT89C52)為核心,實現(xiàn)對整個系統(tǒng)的協(xié)調(diào)和控制,包括讀取數(shù)據(jù)、鍵盤管理、控制顯示、打印、存儲和通訊等功能。
(3)數(shù)據(jù)采集和處理模塊:以數(shù)字信號處理器(TMS320C32)為核心,進行數(shù)據(jù)采集、自動量程變換控制、數(shù)據(jù)處理以及給單片機發(fā)送結(jié)果數(shù)據(jù)。
(4)存儲模塊:由串行E 2 ROM(ATMEL24C64)構(gòu)成。用于存儲該次的測量結(jié)果。
(5)顯示模塊:使用MSP-G240128DYSY-1W型液晶顯示器完成系統(tǒng)顯示功能。
(6)打印模塊:使用通用的TpuP-A微型面板式打印機完成系統(tǒng)輸出打印功能。
(7)通訊模塊:提供工業(yè)用的RS232串行通訊接口,可實現(xiàn)上位機與下位機的串行通信。
2 測量原理與算法分析
2.1 測量原理
本測試儀通過測量發(fā)電機轉(zhuǎn)子的阻抗和功率損耗來判斷匝間短路故障是否發(fā)生。直接測量的量是電壓和電流信號,通過獲取的電壓和電流信號來計算功率損耗、交流阻抗、電阻和電抗等參數(shù)。基本測量公式如下:
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其中,u(n)和i(n)分別為第n點的電壓和電流采樣值,N為采樣點數(shù),φ為電壓和電流的相位差。
2.2 算法分析
在實際采樣過程中,由于電網(wǎng)頻率的波動,其基波頻率不能完全準(zhǔn)確地獲得,因而采樣通常是在非同步情況下進行的。在非同步采樣下,傳統(tǒng)的FFT存在泄漏效應(yīng)和柵欄效應(yīng),使得算出的頻率、幅值和相位誤差較大。為了減小非同步采樣對FFT的影響,提高測量精度,本設(shè)計采用基于Blackman-Harris窗的插值算法。參考文獻[2]、[3]對這一算法進行了詳細的推導(dǎo)。
設(shè)一采樣信號的序列x(n)為:
式中,fm為信號頻率,Δt為采樣間隔。
x(n)的傅里葉變換表達式為:
由于電網(wǎng)電壓的基頻變化范圍一般為49.5Hz~50.5Hz,并且在本設(shè)計中,每次測量采樣16個周期,每周期采樣128個點,故N=128×16=2048。因此,式(2)中DFT的頻率分辨率為:
Δf=1/(Δt·n)=1/[(0.02/128)·2048]=3.125Hz
x(n)經(jīng)過加Blackman-Harris窗后,其DFT表達式可以表示為狄利克來核的代數(shù)和:
式中,a0=0.35875,a1=0.48829,a2=0.14128,a3=0.01168。
如果采樣頻率不是fm的整數(shù)倍,在頻譜中就會產(chǎn)生柵欄效應(yīng),即實際信號的各次諧波分量并未正好落在頻率分辨點上,而是落在某兩個頻率分辨點之間。假設(shè)fm在lΔf和(l+1) Δf之間,l為整數(shù),即:
fm=(1+λ) Δf 0≤λ<1 (4)
在本設(shè)計中,由于只需求得電壓和電流的基波分量,因此:l=fm/Δf=50/3.125=16。
這樣,│X(l)│和│X(l+1)│中必有一峰值點。當(dāng)λ<0.5時,│X(l)│達到最大值;當(dāng)λ>0.5時,│X(l+1)│為最大值。
由(2)式可以得到:
令θ=l+n,并將(4)式代入,可得:
X(l+n)=AmD(n—λ) (6)
x(n)加Blackman-Harris窗后的頻譜在整數(shù)采樣點的數(shù)值為:
設(shè)定系數(shù)
由于在測量采樣時,采樣點數(shù)N取得較大(N=2048),而且λ<1,因此可以作近似≈1。這樣可求得如下方程。
a=—(2λ6—12λ5—941λ4+3844λ3+35041λ2—77802λ
—390632)(λ+3)/[(2λ6—971λ4+40837λ2—430500)(λ—4)] (9)
已知a時,由上式將位于[0,1]區(qū)間內(nèi)的解λ解出后,代入式(4),可求出準(zhǔn)確的頻率fm,再由式(7)可求出復(fù)振幅[2]為:
Am(l)=Xmw(l)/{0.35875×D(-λ) -0.5×0.48829×
[D(-1-λ)+D(1-λ)]+0.5×0.14128×[D(-2-λ)+D(2-λ)] -0.5×0.01168[D(-3-λ)+D(3-λ)]} (10)
│Am(l)│即為振幅值,相位計算公式為:
ψm(l)=arctan[Im(Am(l)]/[Re(Am(l)] (11)
由式(11)即可分別求出電壓和電流基波的相位,從而求出電壓和電流的相位差。將相位差帶入電阻和電抗的計算公式中,即可求得電阻和電抗的值。
3 實際運行結(jié)果
本實驗的實驗設(shè)備包括:CF-500A型單向交流功率源、Agilent 34401A型6位半數(shù)字萬用表、VC980型四位半數(shù)字萬用表。實驗數(shù)據(jù)如表1所示。
表1 實驗數(shù)據(jù)
由表1可知,電壓和電流有效值的最大引用誤差分別為:
根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)GB776-76《測量指示儀表通用技術(shù)條件》的規(guī)定,本儀器測量電壓有效值的準(zhǔn)確度等級為0.1級,測量電流有效值的準(zhǔn)確度等級為0.2級。
由表1可知,阻抗和電阻的最大相對誤差分別為:
本儀器采用計算和控制功能強大、易于開發(fā)的MCU+DSP的硬件方案組建了硬件平臺;采用加窗插值FFT算法,即加Blackman-Harris窗的插值算法,有效地抑制了FFT存在的泄漏效應(yīng)和柵欄效應(yīng),提高了測試的精度,尤其是相位的測量精度。實驗室和現(xiàn)場測試表明,本儀器具有測量結(jié)果準(zhǔn)確度高、運行可靠的特點。
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